高速シリコンディープエッチング装置 RIE-800BCT
2カセットを標準装備
概要
本装置は放電方式に誘導結合プラズマ(ICP: Inductively Coupled Plasma)を採用した高速シリコンディープエッチング装置です。ボッシュプロセスに対応し、MEMSやTSVに求められる高速かつ高アスペクト比のシリコンエッチングが可能です。非ボッシュプロセスにも対応しており、ご要望に応じた柔軟な側壁形状制御が可能です。大気搬送部には、カセットを2台搭載可能であり、高精度アライナーと組み合わせることで、ウエハのオリフラやノッチの自動位置合わせに対応しています。さらに、エッジプロテクションリングの自動装着にもオプションで対応しており、安定した量産プロセスを可能とします。
特長
- ボッシュプロセス専用ICPコイルにより5,000 Wの高RFパワーを効率よく印加可能
- 0.1秒のガスの高速切り替えにより低スカロップ加工が可能
- レジストとシリコンの選択比 1:500 以上でのエッチングが可能
- 45 μm/min以上の高速シリコン深掘りが可能
- 100 以上の高アスペクト比加工が可能
- チルトを抑制しø8インチウエハでの良好な均一性を実現
- ランピングプロセスに対応(パラメータランピング機能)
- 非ボッシュプロセスによるスカロップフリーと順テーパー加工が可能
- 豊富なプロセスライブラリ
応用例
- MEMS(加速度センサ、ジャイロセンサ、圧力センサ、アクチュエータなど)の加工
- インクジェットプリンタヘッドの加工
- シリコン貫通ビア(TSV)の形成
- 電子部品の加工


