原子層沉積(ALD)

原子層沉積(ALD) 是一種先進的薄膜生長技術,專為電子設備(如功率元件與射頻元件)提供無針孔且均勻的絕緣薄膜沉積能力。此技術具備多項卓越優勢:其一,在高深寬比的溝槽與穿孔結構上展現出色的共形性;其二,實現埃級的薄膜厚度精確控制;其三,基於連續且自限的反應機制,可達成薄膜組成的可調性。 Samco 公司致力於提供高效且靈活的 ALD 解決方案,包括開放式負載 ALD 系統與具備負載鎖定機制的 ALD 系統,以滿足多元的產業需求。

特色

  • 自我侷限地逐層沉積
  • 高對比結構上的極佳覆蓋性
  • 無針孔及無灰塵
  • 應用性廣的前驅物質及製程

ALD製程圖示

  • 利用TMA (trimethylaluminum) 及H2O / O2電漿沉積AIOx膜.
  • 重複A~D的循環.
  • 在step B清腔後只留下單一原子層(自我侷限性).

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