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ボッシュプロセス 高速ボッシュプロセスに対応するため独自のプラズマ発生源と反応器構造を有し、高速シリコンディープエッチングが可能です。
ガスの高速切替 ガスの高速切替を行うことにより、エッチングレートを維持したままスキャロップの低減が可能です。
ウエハー貫通エッチングが可能
ノッチ対策 SOI基板加工におけるノッチ対策が可能です。(オプション)
TSVの加工 3次元LSIでの貫通ビア形成が可能です。
加速度センサー、ジャイロセンサー、アクチュエータなどの加工
μTASなどの医療機器の加工
Samco-Interview 科学者様、研究者様へのインタビューをご紹介